法国CA8335电能质量分析仪
销售:英国abi_BM8600电路板故障检测仪,英国abi_BM8500电路板故障检测仪,英国abi_BM8400电路板故障检测仪,英国abi_AT256 A4集成电路测试仪,英国abi_SWA1024集成电路测试仪,英国abi_AT256 A4 pro4集成电路测试仪
 英国abi中国区技术服务中心 >> 解决方案 >> HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

型号:HCPL-6751 品牌:英国abi

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

测试设备:电路板故障测试仪BM8600

使用模块:可编程电源+三维立体V-I-F曲线阻抗测试模块

测试内容:HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

测试结果:失败

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

测试结果分析:

1、图1说明国产器件与进口器件在相同频率下开关时间特性不同;

2、图2说明国产器件导通电压下限为1.12V;进口器件导通电压下限为1.4V;国产器件导通电压过低有可能会导致误触发。

3、在测试过程中,国产器件出现第3组光耦偶发性故障,施加触发电压后光耦无输出。

上一产品:上工富怡智能制造(天津)有限公司,英国ABI-3400技术培训现场

下一产品:

相关产品